同步辐射X射线吸收谱(XAFS)

仪器型号: 同步辐射光源
预约次数: 15次
服务周期: 7-21个工作日
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项目介绍

同步辐射吸收谱(XAFS)可以分为三个部分,边前区(Pre-edge)、近边区(XANES)和扩展边(EXAFS)。XANES可以得到吸收原子的电子结构,包括价态、对称性、轨道占据等信息;EXAFS可以得到吸收原子周围配位信息,包括配位原子种类、键长、配位数、无序度等信息。XAFS方法不依赖晶体结构、不限制样品形态、具有元素选择性、可得到体相平均结构信息,是研究原子配位环境的重要分析手段,是结构研究领域的强有力工具! 


通常将XAFS谱分为两区域:

(1)X射线吸收近边结构——在吸收边之上50eV之内(X—ray Absorption Near Edge Structure,XANES)

(2)扩展X射线吸收精细结构——吸收边之上50eV以上的区域(Extended X-ray Absorption Fine Structure EXAFS) (50~1000eV)


结果展示

测试只有数据,不包含作图和分析,如需分析服务,请联系艾思实验室的工作人员

数据分析能提供的分析结果文件:

1、Origin图:EKR空间对比图、R和K拟合图、和小波变换图;

2、word报告:整理分析的结果数据、拟合结果的表格等;

3、文件:提供分析后作图所需的数据;

4、不提供软件处理的源文件,不提供拟合所用的cif文件。

XAFS谱图如图所示,在吸收边附近及其高能扩展段存在一些分立的峰或波动起伏,其分布从吸收边前至吸收边后高能一侧约1000 eV。根据形成机制及处理方法的不同,通常将其分为两个不同的部分:X射线吸收近边结构(X-Ray Absorption Near Edge Structure, XANES)扩展X射线吸收精细结构(Extended X-Ray Absorption Fine Structure, EXAFS)

XAFS-1.png


  • XANES: 吸收原子的电子结构:价态、轨道杂化、对称性等结构信息;

  • EXAFS: 吸收原子近邻配位原子的结构信息:原子种类、键长、配位数和无序度因子等;

XAFS-2.png

样品要求

1、粉末样品最好过400目,尽量100mg以上;

2、块体或者薄膜长宽1cm左右,厚度一般1mm以内,需要具体评估合适厚度;

3、液体5ml,浓度越高越好(仅部分元素可测,具体请联系实验室的工作人员);

4、请提前用ICP测定样品中元素的真实含量;



常见问题
为什么边前区有翘起,不是平的?

需要Normalized处理,或者手动调节pre-edge range,再进行归一化处理。

一个元素为什么测有两个数据?用哪一个?

两个或多个数据是用到了荧光模式,进行了多次扫描,将多组数据merge合并后再进行处理和分析。

为什么曲线毛刺、跳边不明显、信噪比差?

数据质量一般,是由于元素含量较低,或其他元素组分干扰造成的,只能在做图时平滑处理或者在Athena中Deglitch。