表面成分分析技术-XPS测试分析

仪器型号: Thermo Kalpha;Thermo ESCALAB 250XI; Axis Ultra DLD Kratos AXIS SUPRA; PHI-5000versaprobeIII
预约次数: 36次
服务周期: 1.9-6.1
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项目介绍

服务内容:XPS测试+分析一体化服务,以终为始,根据样品信息和分析目的综合开发测试方法,从更专业的角度给到更加符合样品实际情况的分析报告。报告内容包括测试参数、测试方法、分析方法简介、分析结果和扩展资料。如有疑问,请联系科奥工作人员。

技术简介:X射线光电子能谱仪 (简称XPS)是一种常规的表面成分分析技术,可以表征材料表面的成分组成及各成分的化学价态,并可定量表征每种成分的相对含量。XPS采用激发源-X射线入射样品的表面,(常用的X-射线源是Al-Kα单色化X射线源,能量为1486.6eV,)探测从样品表面出射的光电子的能量分布,其原理基于爱因斯坦的光电发射理论。由于X射线的能量较高,所以得到的主要是原子内壳层轨道上电离出来的电子。由于光电子携带样品的特征信息(元素信息、化学态信息等),通过测量逃逸电子的动能,就可以表征出样品中的元素组成和化学态信息。因此对于各种材料开发,材料剖析与失效机理的分析和研究具有不可替代的作用。

(1) 固体物理学:键结构、表面电子态、固体的能带结构、合金的构成与分凝、粘附 、迁移与扩散;

(2) 基础化学:元素和分子分析、化学键、分子结构分析、氧化还原、光化学;

(3) 催化科学:元素组成、活性、表面反应、催化剂中毒;

(4) 腐蚀科学:吸附、分凝、气体—表面反应、氧化、钝化;

(5) 材料科学:是研究各种镀层、涂层、包覆层和表面处理层 (钝化层、保护层等) 的最有效手段,广泛应用于金属、高分子、复合材料等材料的表面处理、金属或聚合物的淀积、防腐蚀、抗磨、断裂等方面的分析。

(6) 微电子技术——电子能谱可对材料和工艺过程进行有效的质量控制和分析,注入和扩散分析,因为表面和界面的性质对器件性能有很大影响。

(7) 薄膜研究——如光学膜、磁性膜、超导膜、钝化膜、太阳能电池薄膜等。 研究膜层结构、层间扩散,离子注入等。


样品要求

1,粉末样品提供20-30mg,量少请用铝箔纸包好再装到管子里寄送;块状/薄膜:长宽厚不超5*5*3mm;需要刻蚀的样品建议准备3个左右。

2,特殊需求:样品含I、Br、Hg等元素单质不能测试或其他特殊需求请联系当地项目经理。

3,样品包装要求:样品制备好以后,尽可能进行真空密封,减少样品吸附空气中的污染物,对于某些元素的测试,比如常见的C、O,会有影响。

4,XPS测试需要样品用导电胶固定在样品台上,所以测过的粉末样品没法回收,块体样品回收可能也受到污染或者破坏,建议尽量不回收样品。