小角X射线散射（SAXS）和掠入射小角X射线散射（GISAXS）是分析1nm-0.1µm结构的强有力手段。对于诸如聚合物、蛋白质溶液、液晶、表面特性、粉末、块状样品以及薄膜等各种样品，这两种测试方法不仅能够提供纳米颗粒粒度、形状以及粒度分布的信息，还能提供结构动力学信息。

一维计算分形、Porod曲线、Krakky方程和劳伦兹曲线；

二维可以计算原始散射、距离分布函数（PDDF）、回转半径、相关函数、特征函数、Kalaty方程、二维作图、分形等。

可以得到的数据如下所示：

1.  散射曲线图、分形维数（Dm；Ds）、α值

2. 对距离分布函数（PDDF）

3.  界面信息、均匀程度（Porod曲线）

参考文献：Chinese Physics C Vol. 37, No. 10 (2013) 108002. DOI: 10.1088/1674-1137/37/10/108002.

4. 回转半径（Rg）。

Eg：回转半径测试结果为nm级别；

5. 相关函数。

6. Kalaty方程

7. SAXS二维图，需要二维数据。

8. 粒径/孔径拟合图

提供测试仪器型号、探测器型号、测试距离、原始数据，下单前请提前沟通需求~