项目介绍
X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。X射线管产生入射X射线（一次X射线），激发被测样品，产生X荧光（二次X射线），探测器对X荧光进行检测。
样品要求
1、样品状态：可为粉末、块状、薄膜样品；
2、粉末样品需要至少2g，样品在测试之前尽量干燥，可以过200目筛的样品无需研磨；含碳元素含量超过10%的样品，请先将样品烧成灰，再测试；
3、块状、薄膜样品：块状样品尺寸在2.5~4.5cm之间，标明测试面（表面光滑平整）。
许老师
19128689285
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